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畢業(yè)論文:偏度、峰度檢驗—產(chǎn)品質(zhì)量檢驗

發(fā)表時間:2013/7/21 20:31:21

偏度、峰度檢驗
—產(chǎn)品質(zhì)量檢驗
院系:數(shù)學(xué)科學(xué)學(xué)院
專業(yè):數(shù)學(xué)與應(yīng)用數(shù)學(xué)
屆別:2011屆本科

目錄
摘要 1
Abstract 2
引言 3
一、常用定理 4
1.1 特征函數(shù) 4
1.2 一些常用分布的特征函數(shù) 5
1.3 中心極限定理 6
1.4 三種常見的統(tǒng)計量 7
1.5 正態(tài)總體的抽樣分布 9
二、假設(shè)檢驗 13
2.1 無偏估計 13
2.2 顯著性檢驗 和 關(guān)于 檢驗 14
三、偏度、峰度檢驗 17
3.1偏度、峰度檢驗 17
3.2 偏度、峰度檢驗的應(yīng)用 19
結(jié)論分析 21
參考文獻(xiàn) 22
致 謝 22

摘要
所有生產(chǎn)制造公司類的公司都會考慮產(chǎn)品質(zhì)量問題,要從一大批量的產(chǎn)品中隨機(jī)抽取一定數(shù)量的產(chǎn)品,通過檢查,測定一組所要檢測的數(shù)據(jù)。為了降低數(shù)據(jù)分析過程中帶來的麻煩,通常情況要考慮樣本總體是否服正態(tài)分布。因此,首先假設(shè)樣本是服從正態(tài)分布,在選取適當(dāng)?shù)慕y(tǒng)計量,確定顯著性水平 ,當(dāng)偏度 與 的偏離不應(yīng)太大,峰度 與 的偏離不應(yīng)太大的情況下,為了使犯第一類錯誤情況降低。因此,要讓拒絕域滿足 時,我們就稱該樣本是服從正態(tài)總體分布的。這種檢驗方法稱為偏度、峰度檢驗。燈泡的通光量是檢測一個燈泡是否合格的標(biāo)準(zhǔn),隨機(jī)抽取了
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方法,但是用它來檢驗總體的正態(tài)分布時,犯第二類錯誤的概率比較大。通過大量的模擬計算的結(jié)果,認(rèn)為正態(tài)性檢驗中,以偏度、峰度檢驗是較為有效地檢驗。目前許多企業(yè)依舊延續(xù)著經(jīng)驗主義和簡單的檢驗方法。通過檢驗抽取檢驗產(chǎn)品,當(dāng)產(chǎn)品的合格率達(dá)到規(guī)定的值時,就認(rèn)為這一批產(chǎn)品是合格的。當(dāng)一批產(chǎn)品原本是合格的,但是剛好抽取到了次品太多,造成檢驗不合格,工作人員會要求相關(guān)人員返工或者直接報廢,造成大量的成本浪費;蛘弋(dāng)一批產(chǎn)品是不合格品很多,剛好抽取到得產(chǎn)品全是合格品或者達(dá)到了合格品的要求,公司就會直接將產(chǎn)品出售,等到供貨商開始處理這批產(chǎn)品發(fā)現(xiàn)大量的不合格品,那么這種情況損失會更大,不但要求供應(yīng)商賠款,還會造成對供應(yīng)商的整體評價的下降。因此這些小概率事件發(fā)生的肯能行有多高呢?因此工作人員經(jīng)過統(tǒng)計,收集數(shù)據(jù),模擬計算,對數(shù)據(jù)進(jìn)行處理。對于連續(xù)隨機(jī)試驗的到的數(shù)據(jù)都是符合正態(tài)分布的,為了降低小概率事件的發(fā)生,我們將如果總體是合格品,但是通過抽樣檢驗,這批產(chǎn)品次品率太高,造成不合格的情況視為犯第一類錯誤,顯著性水平為 。通過偏度、峰度檢驗法來檢驗樣本是否服從總體正態(tài)分布,來對數(shù)據(jù)處理,從而降低對數(shù)據(jù)處理和分析的難度。

一、常用定理
統(tǒng)計量是對總體的分布函數(shù)或數(shù)字特征進(jìn)行估計與推斷的基本概念,統(tǒng)計量的分布也稱為抽樣分布。設(shè) 是來自總體*的一個樣本, 是 的函數(shù),若g中不含未知參數(shù),則 是一個統(tǒng)計量。

1.1 特征函數(shù)
設(shè) 是隨機(jī)變量*的分布函數(shù),對 則有*的特征函數(shù):
1)
2)

都存在 成立
故對于任何隨機(jī)變量都有特征函數(shù)。
3)當(dāng)Y=a*+b(a,b為任意常數(shù))的特征函數(shù)為:
。
4) 隨機(jī)變量存在n階原點矩,則 的n階導(dǎo)數(shù)存在,且

5)當(dāng) , ,…,*n為相互獨立的隨機(jī)變量,
特征函數(shù)為 則
特征函數(shù)等于各個隨機(jī)變量的特征函數(shù)的乘積,即
(1)若*是離散型隨機(jī)變量,其概率函數(shù)為 ,則特征函數(shù)為

(2)若*是連續(xù)型隨機(jī)變量,其密度函數(shù)為f(*),則*的特征函數(shù)為


1.2 一些常用分布的特征函數(shù)
1、二項分布
*服從二項分布, 。
解 ,( ( ),k=1,2,…n,)
特征函數(shù):


即: 為二項分布的特征函數(shù)
2 、正態(tài)分布
解:當(dāng) (0,1)正態(tài)分布時,即密度函數(shù): 。

由于 是復(fù)變函數(shù),所以用復(fù)變函數(shù)的積分公式

。
又 當(dāng)*服從正態(tài)分布, 密度函數(shù)為:

,

,

即:

1.3 中心極限定理
對于隨機(jī)變量 相互獨立,服從同一分布且具有數(shù)學(xué)期望和方差分別為:
,(k=1,2…n)。
設(shè) ,則

證:

,
,

=1-1/2 +



定理:分布函數(shù)列 弱收斂于分布函數(shù) 的充要條件是相應(yīng)的特征函數(shù)列 收斂于 的特征函數(shù) 。
故由以上定理可 。
即 服從標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布。

1.4 三種常見的統(tǒng)計量
1.4.1 分布
設(shè)隨機(jī)變量 相互獨立都服從正態(tài)分布為 (0,1) 的正態(tài)分布 服從_度為n的分布 。 記為:



c2 分布的密度函數(shù)曲線圖

可見_度n增大時,密度曲線逐漸趨于對稱,當(dāng) 時, 分布的極限分布是正態(tài)分布,當(dāng) 時,可以認(rèn)為近似于標(biāo)準(zhǔn)正態(tài)分布.


應(yīng)用中心極限定理可得,若 則當(dāng)n充分大時, 的分布近似正態(tài)分布 N (0,1).

1.4.2 分布
設(shè) *~N(0,1),Y~ 且*與Y相互獨立,則稱變量 所服從的分布為_度為 n的 分布。 記為:T~t(n).
T的密度函數(shù)為:


是偶函數(shù),所以它的圖形是關(guān)于*=0對稱的,且形狀類似于正態(tài)隨機(jī)變量的密度函數(shù)形狀。由圖可見當(dāng) 時, 分布的極限分布是標(biāo)準(zhǔn)的正態(tài)分布。
且 當(dāng) 時對 n > 2; E( T ) = 0; D( T ) = n / ( n - 2 ) 。

1.4.3 分布
設(shè) ,*與Y相互獨立,則稱統(tǒng)計量
服從_度為 及 的F分布, 稱為第一_度, 稱為第二_度,記作:

若* ~ , *的 ……(未完,全文共7152字,當(dāng)前僅顯示2512字,請閱讀下面提示信息。收藏《畢業(yè)論文:偏度、峰度檢驗—產(chǎn)品質(zhì)量檢驗》
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